Sistema de metrologia de superfícieFRT
MicroProf MPR 1250
Sistema de metrologia de superfície
FRT
MicroProf MPR 1250
preço fixo não incluindo IVA
€ 7.200
Condição
Usado
Localização
Borken 

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Dados da máquina
- Descrição da máquina:
- Sistema de metrologia de superfície
- Fabricante:
- FRT
- Modelo:
- MicroProf MPR 1250
- Condição:
- muito bom (usado)
Preço e localização
preço fixo não incluindo IVA
€ 7.200
- Localização:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

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Detalhes da oferta
- ID do anúncio:
- A19101251
- Nº de referência:
- 24622
- Última atualização:
- em 23.07.2025
Descrição
Fries Research & Technology
Designação do equipamento: FRT MicroProf® MPR 1250
Lsdpfxowh Swdo Af Rjhp
O FRT MicroProf® MPR 1250 é um sistema de medição de superfícies de alta precisão da série MicroProf® da Fries Research & Technology GmbH (FRT).
Estes sistemas são concebidos para a análise não destrutiva e sem contato de parâmetros de superfície como topografia, rugosidade, espessura de camadas e outros.
Características do FRT MicroProf:
Detalhes do equipamento:
Modelo: FRT MicroProf® MPR1250
Número do artigo: 200 00
Tipo de sensor: CWL 300 µm
Número de série: 0904001
Princípio de medição: Sensor pontual cromático-confocal
Fonte de luz: lâmpada halógena, luz branca
Resolução vertical: até 3 nm
Precisão de medição (Z): 100 nm
Resolução lateral (XY): 2,5 µm
Ângulo de medição em relação à superfície: 90° ±30°
Tamanho máximo da amostra: aprox. 310 x 310 x 50 mm
Dados técnicos (excerto):
Mesa XY:
Tipo: mesa cruzada XY compacta
Curso (área de medição): 200 x 200 mm
Guiamento: guia de rolos cruzados mecânica
Acionamento: motor DC com fuso de esferas
Sistema de medição de posição: régua óptica Heidenhain com marca de referência
Resolução do sistema de medição: 0,2 µm
Repetibilidade: < ±1 µm
Perpendicularidade XY: < 4 µm / 200 mm
Desvio em altura (por eixo): < 2 µm / 200 mm
Eixo Z (motorizado):
Tipo: eixo linear
Curso: 50 mm (opcional 100 mm)
Acionamento: motor de passo com fuso
Desvio lateral: < 2 µm / 50 mm
Ajuste manual grosso (opcional):
Tipo: guia tipo cauda de andorinha
Curso de ajuste: até 300 mm de altura da amostra
Medição:
Distância mínima dos pontos (XY): 0,6 µm
Tamanho da amostra: aprox. 310 x 310 x 50 mm
Peso máximo da amostra: 5 kg (opcional 10 kg)
Velocidade de medição: 1 µm/s até máx. 100 mm/s
Sistema:
Peso total: aprox. 275 kg (estrutura de medição: 225 kg)
Área de instalação do sistema de medição: aprox. 0,9 x 0,8 m
Dimensões da unidade de controle (L x P x A): aprox. 0,55 x 0,53 x 0,32 m
Alimentação elétrica (EU/US): 110–240 V, 50–60 Hz, 16 A
Consumo energético: aprox. 300–400 W
Condições de operação:
Faixa de temperatura: 22 °C ±5 °C
Estabilidade de temperatura: < 0,5 °C
Peso aprox. 500 kg
Condição:
O equipamento encontra-se em excelente estado técnico e visual.
Todos os eixos movem-se de forma precisa e uniforme.
Conteúdo da entrega:
Sistema de medição XY MicroProf® MPR200 00
Unidade de controle
Cabos de ligação
(Sujeito a alterações e possíveis erros nos dados técnicos!)
Visita e teste no local disponíveis mediante acordo prévio.
Para mais perguntas, estamos disponíveis por telefone.
O anúncio foi traduzido automaticamente e alguns erros de tradução podem ocurrer.
Designação do equipamento: FRT MicroProf® MPR 1250
Lsdpfxowh Swdo Af Rjhp
O FRT MicroProf® MPR 1250 é um sistema de medição de superfícies de alta precisão da série MicroProf® da Fries Research & Technology GmbH (FRT).
Estes sistemas são concebidos para a análise não destrutiva e sem contato de parâmetros de superfície como topografia, rugosidade, espessura de camadas e outros.
Características do FRT MicroProf:
Detalhes do equipamento:
Modelo: FRT MicroProf® MPR1250
Número do artigo: 200 00
Tipo de sensor: CWL 300 µm
Número de série: 0904001
Princípio de medição: Sensor pontual cromático-confocal
Fonte de luz: lâmpada halógena, luz branca
Resolução vertical: até 3 nm
Precisão de medição (Z): 100 nm
Resolução lateral (XY): 2,5 µm
Ângulo de medição em relação à superfície: 90° ±30°
Tamanho máximo da amostra: aprox. 310 x 310 x 50 mm
Dados técnicos (excerto):
Mesa XY:
Tipo: mesa cruzada XY compacta
Curso (área de medição): 200 x 200 mm
Guiamento: guia de rolos cruzados mecânica
Acionamento: motor DC com fuso de esferas
Sistema de medição de posição: régua óptica Heidenhain com marca de referência
Resolução do sistema de medição: 0,2 µm
Repetibilidade: < ±1 µm
Perpendicularidade XY: < 4 µm / 200 mm
Desvio em altura (por eixo): < 2 µm / 200 mm
Eixo Z (motorizado):
Tipo: eixo linear
Curso: 50 mm (opcional 100 mm)
Acionamento: motor de passo com fuso
Desvio lateral: < 2 µm / 50 mm
Ajuste manual grosso (opcional):
Tipo: guia tipo cauda de andorinha
Curso de ajuste: até 300 mm de altura da amostra
Medição:
Distância mínima dos pontos (XY): 0,6 µm
Tamanho da amostra: aprox. 310 x 310 x 50 mm
Peso máximo da amostra: 5 kg (opcional 10 kg)
Velocidade de medição: 1 µm/s até máx. 100 mm/s
Sistema:
Peso total: aprox. 275 kg (estrutura de medição: 225 kg)
Área de instalação do sistema de medição: aprox. 0,9 x 0,8 m
Dimensões da unidade de controle (L x P x A): aprox. 0,55 x 0,53 x 0,32 m
Alimentação elétrica (EU/US): 110–240 V, 50–60 Hz, 16 A
Consumo energético: aprox. 300–400 W
Condições de operação:
Faixa de temperatura: 22 °C ±5 °C
Estabilidade de temperatura: < 0,5 °C
Peso aprox. 500 kg
Condição:
O equipamento encontra-se em excelente estado técnico e visual.
Todos os eixos movem-se de forma precisa e uniforme.
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